HST103-AW Computergestütztes invertiertes metallografisches Mikroskop

HST103-AW Computergestütztes inverses metallografisches MikroskopEinführung: Das computergestützte inverse metallografische Mikroskop HST103-AW ist ein hochpräzises Instrument, das speziell für die An

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Einführung:

Das computerisierte inverse metallografische Mikroskop HST103-AW ist ein hochpräzises Instrument, das speziell für die Analyse der Mikrostruktur von Metallmaterialien entwickelt wurde. Es integriert einen stabilen Mikroskop-Host, ein hochauflösendes Kameragerät und eine echte metallografische Bildanalysesoftware und bietet Benutzern eine umfassende und effiziente Lösung für die Erkennung und Analyse metallografischer Strukturen.

Dieses Mikroskop wird häufig in verschiedenen Bereichen wie der metallografischen Strukturanalyse von Metallmaterialien (einschließlich Perlit, Sphäroidisierungsrate, Korngröße, Graphitmorphologie usw.), der metallografischen Analyse in Lehre und Forschung, feinmechanischen Messungen usw. eingesetzt. Es ist ein unverzichtbares und wichtiges Werkzeug in der Materialwissenschaft, der Metallurgietechnik, der mechanischen Fertigung und anderen Branchen.

Eigenschaften:

Hoher Austrittspunkt und Weitwinkelokular

Das Design eines Bildgebungssystems mit großem Sichtfeld und einer Beobachtung mit extrem großem Sichtfeld von 20 mm bietet Ihnen ein beispielloses visuelles Erlebnis. Das Design der Gummi-Augenmaske ist für Brillenträger benutzerfreundlicher und sorgt dafür, dass jeder Beobachter bequem eine klare Sicht genießen kann.

Mechanische mobile Plattform

Einführung einer großen Hochleistungsplattform von 180×Mit einer Breite von 150 mm und einem rechtshändigen Design entspricht es den Bediengewohnheiten der meisten Menschen. Das Umschalten zwischen Fokussierungsmechanismus und Plattformbewegungsbetrieb ist bequem und verbessert die Arbeitseffizienz. Der ultrabreite Handhabungsgriff macht die Handhabung der Ausrüstung einfacher und reibungsloser.

Professionelles metallografisches Objektiv mit großem Arbeitsabstand

Das professionelle metallografische Fernobjektiv verfügt über eine deutlich verbesserte Abbildungsauflösung und Aberrationskorrekturfähigkeit durch fortschrittliches optisches Optimierungsdesign und professionelle Beschichtungstechnologie und bietet eine genauere digitale Lösung für die Beobachtung und Analyse von Mikrostrukturen.

Funktion zur Anzeige der Fronthelligkeit

Die Helligkeits-Voranzeigefunktion nutzt einen eingebauten Helligkeitssensor, um die aktuelle Helligkeit in Echtzeit vor dem Instrument anzuzeigen und so die Bedienung des Instruments effizienter und komfortabler zu gestalten.

Neues intelligentes ECO-System

ECO-Infrarot-Sensorsystem: Wenn das Mikroskop längere Zeit nicht betrieben wird, entfaltet das ECO-Infrarot-Sensorsystem seine doppelten Vorteile: Umweltschutz und Wirtschaftlichkeit. Das System ist mit fortschrittlicher Infrarot-Sensortechnologie ausgestattet, die genau überwachen kann, ob sich in der Nähe des Mikroskops menschliche Aktivitäten befinden. Sobald erkannt wird, dass sich das Mikroskop im Leerlauf befindet, unterbricht das System automatisch die Stromversorgung und versetzt das Mikroskop in den Schlafmodus, was nicht nur den Energieverbrauch effektiv senkt, sondern auch die Sicherheit des Instruments erhöht.

Vollspektrum-LED-Beleuchtung

Vollspektrum-LEDs mit einer Wellenlänge von 400 nm bis 700 nm können einen breiteren Spektralbereich bieten, einschließlich aller Farben im natürlichen Licht, wodurch ein natürlicherer Lichteffekt erzielt und alle Organisationsstrukturen im Metall besser dargestellt werden. Im Vergleich zu Halogenlichtquellen hat die Vollspektrum-LED-Beleuchtung eine längere Lebensdauer, eine verzögerte Lichtwellendämpfung sowie einen geringen Stromverbrauch und Verlust.

Hochauflösendes Sony-Chipkameragerät

Das Kameragerät der FEG-Serie ist eine CMOS-Kamera, die die SONY-Chip-C-Schnittstelle nutzt und Bildbeschleunigungstechnologie nutzt. Es kann die Bildrate von USB 2.0 erheblich verbessern und gleichzeitig die Originalbildausgabe gewährleisten, was es zur besten Wahl für einfache und kostengünstige Mikroskopkameras macht.

Metallografisches Bildanalysesystem FMIA2025

Ausgestattet mit einem echten metallografischen Bildanalysesystem können mehrere erweiterte Funktionen angepasst werden, um den metallografischen Prüfprozess professioneller, intelligenter und für Benutzer einfacher zu gestalten.

Technologieparameter:

Komponente

Spezifikationen

BeobachtenRohr

45° Neigung, Drei-Augen-Beobachtungstubus, Einstellbereich des Pupillenabstands: 48-75 mm, einseitige Sehschärfeneinstellung: ± 5 Dioptrien, Spektralverhältnis: 40:60.

Okular

Hoher Augenpunkt, großes Sehfeld, FlachfeldokularHWF 10X/20mm

Objektiv (achromatisches Fernfeldobjektiv)

LMPlan5X /0,13 WD15,5mm

LMPlan10X/0,25 WD8,9mm

LMPlan20X/0,40 WD8,7mm

LMPlan50X/0,65 WD5,2mm

Konverter

Fünf-Loch-Konverter mit interner Positionierung

Fokussierungssystem

Koaxialer Fokussiermechanismus für grobe Feineinstellung in niedriger Handposition mit einer Grobbewegung von 30 mm pro Umdrehung; Feinabstimmungsgenauigkeit 0,002 mm. Ausgestattet mit einem elastischen Einstellhandrad, um ein Verrutschen zu verhindern.

Zieltabelle

Dreischichtige mechanische mobile Plattform mit einer Fläche von 180 mm x 150 mm, gesteuert durch eine niedrige Handposition auf der rechten Hand, mit einem Hub von 35 mm × 15 mm.

Arbeitstisch

Metallträgerplattform (Mittelloch Φ 12 mm)

Beleuchtungssystem

Fallendes Kola-Beleuchtungssystem, integrierte Aperturlichtleiste, adaptive Weitspannung 100–240 V, 50–60 Hz, Vollspektrum-5-W-LED-Licht, stufenlos einstellbare Helligkeit; Anzeigeleiste für die Helligkeit des Frontlichts; ECO-Infrarot-Sensorsystem.

Spiegelschnittstelle anpassen

Eingebaute 0,5-fache Adapterlinsenschnittstelle (unter Verwendung des Standard-C-Typ-Schnittstellendesigns)

Farbfilter

Ausgestattet mit Milchglas und Blaufilter.

Metallographisches Analysesystem

FinfraG2025Echte metallografische Analysesoftware, Sony Chip 5 Millionen Kameragerät, Mikrometer.

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